半導體調試控溫高低溫一體機

半導體調試控溫高低溫一體機

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芯片智能恒溫器測試說明

　　芯片測試關系到芯片行業質量的重要問題，所以，無錫冠亞的芯片智能恒溫器是很關鍵的，那么關于此芯片智能恒溫器，大家都了解多少呢？

　　芯片智能恒溫器廣泛運用于半導體設備高低溫測試。電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源，有著獨立的制冷循環風機組，模塊化設計，備用機替換容易（如果有10臺機子，只要一臺備用機組即可），解決頻繁開關門，蒸發系統結霜問題；蒸發系統除霜過程不影響。構筑一套高低溫恒溫室變的簡單（根據提供的圖紙，像搭積木一般拼接好箱體，連接好電和水，設定好溫度即可工作）。

　　為了解決多年來在芯片測試的問題，無錫冠亞中加入一項溫度測試條目，希望能準確的測量到芯片在進行測試的那個時刻芯片本身達到的溫度值。但是開始時只是在測試程序剛開始的時候加入溫度條目，這個測試條目的加入并沒有給測試硬件帶來很大的影響。

　　隨著新產品芯片智能恒溫器的生產，對測試溫度的要求有了全新的認識。它是用來控制元器件的產品，測試溫度要求其嚴格，目的是為了保證端溫度下電性測試的準確。通常情況下低溫測試都是－45℃，可連續長時間工作，自動除霜，除霜過程不影響庫溫。

　　芯片智能恒溫器測試根據溫度變化會使半導體的導電性能發生顯著變化這一特性，用芯片材料制成各種電子元件,把用于溫度變化有關的半導體材料制成的電子元件(電阻)稱為熱敏電阻。熱敏電阻按照溫度系數的不同分為正溫度系數熱敏電阻(簡稱PTC熱敏電阻)和負溫度系數熱敏電阻(簡稱NTC熱敏電阻)。